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Applications

PCB / Back Drill Analysis

다층 PCB 및 Back Drill 구조의
Pad / Stub / Residual 자동 검사 정밀 계측 및 내부 결함

분석 솔루션

고다층 PCB 및 Advanced Substrate에서는 Back Drill 공정의 정밀도가 신호 품질과 제품 신뢰성에 직접적인 영향을 미칩니다.
AMFIS의 PCB / Back Drill Analysis Platform은 고해상도 X-ray 2D / CT / CL 기술을 기반으로
내부 Via 구조, Stub 길이, 층 정렬 상태 및 미세 결함을 비파괴 방식으로 정밀 분석합니다.
특히, 복잡한 다층 구조에서도 실제 공정 상태를 유지한 채 정확한 계측과 결함 검출이 가능하며,
공정 최적화 및 품질 안정화에 필요한 정량 데이터를 제공합니다.

적용 분야

Back Drill Stub Measurement

Back Drill 이후 잔존 Stub 길이를 정밀 측정하여 고속 신호 품질 확보 및 공정 기준 검증

Layer Alignment Analysis
(층 정렬 분석)

다층 PCB 내부의 층간 정렬 상태를 분석하여 적층 공정의 정밀도 및 불량 요소 확인

Internal Defect Inspection
(내부 결함 검사)

Via, PTH, BGA 영역에서 발생하는 Void, Crack, Delamination 등의 결함을 검출

Via Structure & Connectivity

Via 연결 상태 및 구조적 이상 여부를 분석하여
전기적 신뢰성 문제 사전 예방

Precision Dimensional Metrology
(구조 계측)

미세 구조의 치수, 깊이, 간격 등을
정량적으로 분석하여 공정 편차 및 품질 기준 관리

AI 기반 분석

본 플랫폼은 AI 기반 자동 분석 기능을 통해 복잡한 다층 PCB 구조와 Back Drill 품질을 신속하고 정확하게 해석하며, 데이터 기반의 공정 개선 및 품질 향상을 지원합니다.

Back Drill Stub Measurement

Layer Alignment Analysis

Internal Defect Inspection

Via Structure & Connectivity Analysis

Precision Dimensional Metrology

T.02-839-7360 b