Amfis RayView V2/ S2
X-ray 영상 분석 소프트웨어
Amfis RayView V2 / S2은 AMFIS X-RAY 시스템에 최적화된 전문 X-ray 영상 분석 소프트웨어로,
고해상도 X-ray 이미지의 정밀 분석부터 결함 정량 평가까지 검사 효율과 신뢰도를 동시에 향상시키는 통합 솔루션입니다.
Advanced Image Processing
고급 영상 처리 기술
Amfis RayView는 고정밀 X-ray 영상 분석을 위해 다양한 영상 처리 기능을 제공합니다.
Auto Level, Histogram 분석, Pseudo Color, 다중 필터 기능을 통해 미세 결함과 구조적 변화를 보다 명확하게 시각화할 수 있습니다.
- 자동 명암 최적화 (Auto Level)
- Histogram 기반 영상 분포 분석
- Pseudo Color를 활용한 결함 식별력 향상
- Edge, Median, Sharpen 등 전문 필터 제공
Void & Defect Analysis (BGA / Die Casting)
공극 및 결함 분석
반도체, PCB, SMT, Die Casting 검사에 특화된 Void 정량 분석 기능을 지원합니다.
- Die Void 면적 및 비율 자동 계산
- BGA Void 검출 및 개별 Ball 분석
- Threshold 기반 결함 판별
- 결과 리포트 자동 생성 (TXT)
X-ray Image Capture & Detector Control
X-ray 영상 획득 및 검출기 제어
Amfis RayView는 영상 분석뿐 아니라 X-ray 영상 획득까지 통합 지원합니다.
Detector 보정, 평균 영상 획득, Stream 촬영을 통해
안정적이고 일관된 영상 품질을 유지할 수 있습니다.
- Detector Correction & Calibration
- Binning / Full Well Mode 지원
- 평균 영상, 스트림 영상 획득
- Exposure Time 및 촬영 조건 제어
Advanced Image Processing Technology
Precision X ray / CT / CL Image Processing
AMFIS
는 고해상도 X ray, CT 및 CL(Computed Laminography) 기반의
정밀
영상처리 기술을 통해
PCB, Semiconductor, TGV/TSV 및 다양한 전자부품의
내부
구조를 정밀 분석합니다
Core Technologies
정밀 분석 기술
- High Resolution 2D / 3D Image Processing
- CT & CL Reconstruction Algorithm
- Back Drill Stub Measurement
- Pad Offset & Via Alignment Analysis
- Automatic ROI Recognition
- AI based Image Optimization
- GPU Accelerated Fast Reconstruction
- Automatic OK / NG Judgment
- Excel & MES Data Output Support
Key Features
주요 특징
- 고속 3D 재구성 및 영상 최적화
- 다양한 PCB / Semiconductor 구조 분석 지원
- μ m 단위 정밀 측정 및 자동 판정
- 다수 Via Hole 연속 자동 검사
- 검사 데이터 기반 정량 분석 지원
Measurement Capability
정밀 측정 사양
- Stub Length Analysis
- PCB Thickness Measurement
- PTH / MNC Structure Inspection
- Multi layer Internal Structure Visualization
- Defect Detection & Reliability Analysis
Customized Software & Technical Support
고객 맞춤 솔루션
AMFIS는 고객의 검사 목적과 생산 환경에 맞춘 영상처리 알고리즘 및 분석 소프트웨어를 제공 합니다 보다 자세한 기술 자료 및 맞춤형 검사 솔루션은 AMFIS 엔지니어와 직접 상담해주시기 바랍니다
